标准号：GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

中文标准名称：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

英文标准名称：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry

标准状态：现行

在线预览

中国标准分类号（CCS）H82

国际标准分类号（ICS）29.045

发布日期2016-04-25

实施日期 2016-11-01

主管部门：国家标准化管理委员会

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：