全球首个 Micro LED 阵列国际标准立项

《半导体器件第 5-17 部分：光电子器件发光二极管微型发光二极管阵列器件光电参数测试方法》国际标准提案，正式通过新工作项目提案（NP）投票。这是 Micro LED 领域首个成功立项的国际标准，也是我国在该技术方向主导的首个国际标准，具有里程碑意义。

标准填补行业空白，解决核心痛点

该标准首次明确了 Micro LED 阵列光电参数的标准化测量条件与方法，彻底解决了长期以来行业内测试方法不统一的问题。作为生产制造、检验检测及国际贸易的统一技术依据，其对确保 Micro LED 产品品质与性能一致性起到关键支撑作用。

技术突破推动产业升级

Micro LED 凭借高亮度、低功耗、自发光等优势，被视为新一代主流显示技术的核心方向。在其制程中，混 bin（参数分选）工艺需通过光电参数测试实现波长、亮度的精准分级，直接影响显示均一性与良率提升。针对芯片微缩化带来的测试难题，采用选择性巨量转移技术制备电驱动测试阵列，实现了亮度长 / 短程均匀性、色度均匀性等关键参数的快速批量测试。

来源：IT之家

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编辑：刘宪银  审核：张海明